Меню
  • Компания
  • Каталог
  • Услуги
  • Наши проекты
  • Новости
  • Статьи
  • Решения
  • Контакты
  • Исследование оптических констант C60 и C70 методом эллипсометрии

    | 14 Время чтения:

    Это исследование показало возможность определения оптических констант тонких пленок C60 и C70 в диапазоне 0,6-6,5 эВ с помощью спектроскопической эллипсометрии. После сбора необработанных эллипсометрических данных Is и Ic простая инверсия данных для определения псевдодиэлектрической функции приводит к получению ценной информации, которая помогает в построении подходящей модели для анализа эллипсометрических данных.

    В этом случае псевдодиэлектрическая функция обеспечивала начальные значения энергии для пиков поглощения, наблюдаемых как в тонких пленках C60, так и в C70, и это позволяло использовать дисперсию, состоящую из суммы осцилляторов Тауца-Лоренца. Кроме того, эллипсометрический анализ позволил определить толщину тонких пленок C60 и C70, а также значение ширины запрещенной зоны для каждой из них.

    Более того, поскольку спектроскопический эллипсометр HORIBA Scientific UVISEL 2 с фазовой модуляцией не имеет движущихся частей во время сбора данных, сбор отражений на задней стороне от стеклянной подложки был включен и учтен в модели с помощью специальной функции программного обеспечения HORIBA Scientific DeltaPsi2.

    Фуллерены C60 (а) и C70 (б).

    Фуллерены C60 (а) и C70 (б).

    Более подробную информацию Вы можете получить по ссылке ниже:

    An Ellipsometric Study of the Optical Constants of C60 & C70 Thin Films

    Источники:
    Application Laboratory Team, HORIBA Jobin Yvon S.A.S., Avenue de la Vauve, 91120 Palaiseau, France
    Вернуться

    Есть вопросы — спрашивайте!

    Наши специалисты помогут Вам, окажут бесплатную консультацию или запишут на приём

    Статьи

    Новости 1 - 20 из 26
    Начало | Пред. | 1 2 | След. | Конец